SQ3000是一個一體化的解決方案提供強大的工具，可作檢查和測量應用，如AOI、SPI和CMM。SQ3000? X支持最大720 X 620 mm尺寸基板。

SQ3000?革命性的多重反射抑制(MRS)技術提供無與倫比的精度，通過精確識別和排除由發光部件引起的反射，保證測量精確性的最關鍵因素是有效地抑制多重反射所產生的影響，使MRS技術成為廣泛應用的理想解決方案，包括對質量要求非常高的應用。

速度更快-檢測速度以秒為單位，而不是小時

-以秒數完成幾何計量檢測?檢測時間遠超傳統三坐標
-極大提高了企業的整體工程資源效率?降低人工成本

友好的操作界面

-簡單直觀的操作流程，配合觸摸屏令使用更加便捷
-即使復雜工件?也可實現快速編程
-實現AOI, SPI, AOM, CMM多功能程序融合

計量級精度

-通過MRS (多反射消除）技術達到計量級檢測精度
-針對幾何計量，半導體，微電子和SMT行業?實現大批量編程測量并保持極高重復精度